日本国产三级XXXXXX,亚洲人成网7777777国产,亚洲av无码专区色爱天堂老鸭,亚洲AV永久无码精品三区在线

EN
首頁 > 產(chǎn)品 > 科學(xué)分析儀器 > 綜合光電性能測試系統(tǒng) > RTS- SEMR拉曼-電鏡聯(lián)用光譜測試系統(tǒng)

RTS-SEMR

RTS- SEMR拉曼-電鏡聯(lián)用光譜測試系統(tǒng)

RTS- SEMR拉曼電鏡光譜系統(tǒng)集成場發(fā)射掃描電鏡與拉曼光譜系統(tǒng)于一體，是一款真正意義上實現(xiàn)國產(chǎn)拉曼光譜與掃描電鏡聯(lián)用的設(shè)備。拉曼電鏡通過快速、精確、高性能的拉曼分析，彌補了能譜儀、波譜儀等傳統(tǒng)電鏡附件無法實現(xiàn)的分子結(jié)構(gòu)與成分觀察。尤其是針對有機結(jié)構(gòu)、碳結(jié)構(gòu)、同分異構(gòu)體、晶體與無機相等多領(lǐng)域材料的信息表征，擴展了傳統(tǒng)掃描電子顯微鏡的分析應(yīng)用領(lǐng)域，例如礦物鑒別、高分子與制藥行業(yè)、鋰電行業(yè)、醫(yī)工交叉行業(yè)等，應(yīng)用前景廣闊。
 
 
 
產(chǎn)品咨詢
資料下載
產(chǎn)品概述
拉曼電鏡光譜聯(lián)用技術(shù)
產(chǎn)品簡介
 
掃描電子顯微鏡（SEM）是一種介于透射電子顯微鏡和光學(xué)顯微鏡之間的一種觀察手段。其利用聚焦的很窄的高能電子束來掃描樣品，實現(xiàn)對物質(zhì)微觀形貌表征的目的。具有景深大、分辨率高，成像直觀、立體感強、放大倍數(shù)范圍寬以及待測樣品可在三維空間內(nèi)進行旋轉(zhuǎn)和傾斜等特點。拉曼技術(shù)在分子級別上提供樣品的化學(xué)結(jié)構(gòu)、組分信息；而 SEM 可在納米尺度上提供高空間分辨率的形貌圖像；SEM與拉曼光譜技術(shù)相結(jié)合，使用 SEM 觀察樣品形貌，并可獲取指定樣品點的拉曼光譜信息，同步獲取樣品材料表面形貌、分子結(jié)構(gòu)與化學(xué)組分等信息。
 
典型應(yīng)用
 
RTS- SEMR拉曼電鏡光譜系統(tǒng)
 
北京卓立漢光儀器有限公司全新推出的RTS- SEMR拉曼電鏡光譜系統(tǒng)集成場發(fā)射掃描電鏡與拉曼光譜系統(tǒng)于一體，是一款真正意義上實現(xiàn)國產(chǎn)拉曼光譜與掃描電鏡聯(lián)用的設(shè)備。拉曼電鏡通過快速、精確、高性能的拉曼分析，彌補了能譜儀、波譜儀等傳統(tǒng)電鏡附件無法實現(xiàn)的分子結(jié)構(gòu)與成分觀察。尤其是針對有機結(jié)構(gòu)、碳結(jié)構(gòu)、同分異構(gòu)體、晶體與無機相等多領(lǐng)域材料的信息表征，擴展了傳統(tǒng)掃描電子顯微鏡的分析應(yīng)用領(lǐng)域，例如礦物鑒別、高分子與制藥行業(yè)、鋰電行業(yè)、醫(yī)工交叉行業(yè)等，應(yīng)用前景廣闊。
北京卓立漢光儀器有限公司推出的掃描電鏡-拉曼光譜聯(lián)用裝置采用“離軸”模式設(shè)計理念。“離軸”模式掃描電鏡的電子束與拉曼光譜的激光束不同軸,通過移動樣品臺分別進行掃描電鏡-能譜分析和顯微拉曼光譜分析，原位獲取樣品指定位置的形貌信息和化學(xué)成分信息。
 
RTS-SEMR 拉曼電鏡聯(lián)用光譜系統(tǒng)架構(gòu)
RTS- SEMR拉曼電鏡光譜系統(tǒng)，電鏡擁有大視野及納米級分辨率，是一個樣品微觀形貌分析平臺，系統(tǒng)耦合拉曼共聚焦光路進入真空樣品倉，實現(xiàn)了樣品在電子束和激光束之間的快速切換，在滿足樣品表征觀察的同時，也能夠?qū)崿F(xiàn)納米級分辨率的化學(xué)成分和空間結(jié)構(gòu)分析，充分發(fā)揮掃描電鏡與拉曼兩者的應(yīng)用優(yōu)勢。
 

 
拉曼集成掃描電子顯微鏡采用平行雙束方案，搭載高精度復(fù)合位移臺可實現(xiàn)樣品在拉曼光軸和電子束光軸之間快速、精確、穩(wěn)定的切換，拉曼掃描范圍高達2.5 mm。
獨特的系統(tǒng)及產(chǎn)品設(shè)計保證了操作性、易用性、普適性，用戶可在電鏡中尋找感興趣的材料特征，得到高分辨的掃描結(jié)果后，一鍵切換至拉曼光路下進行該區(qū)域的快速/高精度的光譜掃描，隨后得到高匹配程度的拉曼渲染聯(lián)用效果。
拉曼渲染結(jié)果的像素與光譜數(shù)據(jù)對應(yīng)關(guān)系可通過軟件程序直接提取，提供進行便捷的結(jié)果解析。
 
拉曼光譜集成方案提供了多種配置供用戶選擇，例如激光波長、光譜儀焦長、光柵密度、物鏡等光學(xué)核心配置，充分滿足應(yīng)用及市場的需求。
 
掃描式電子顯微鏡系統(tǒng)配置多種類型探測器，可實現(xiàn)二次電子和背散射電子同時成像，兼容多種應(yīng)用模式，可覆蓋生命科學(xué)、材料科學(xué)、地質(zhì)科學(xué)等多學(xué)科科研應(yīng)用場景。
標(biāo)配五軸高精度運動平臺及自主設(shè)計樣品載臺，可實現(xiàn)多個釘臺同時放樣或單一大尺寸樣品觀測。
 
性能優(yōu)勢
 
· 高靈敏度,高空間分辨率
· 寬行程納米壓電臺,單幀大視野
· SEM+Raman深度耦合,統(tǒng)一操作界面
· 國產(chǎn)自主,核心技術(shù)正向研發(fā)
· 平行聯(lián)用方案高精度樣品臺
· 一鍵切換光路高效聯(lián)用成像
· 軟件提取數(shù)據(jù)圖像直接解析
· 定制化配置滿足市場多樣化需求
典型參數(shù)

 

激光波長

532nm（＞100mW）

拉曼頻移范圍

60-6000cm-1@532nm

光譜分辨率

<1cm-1

信噪比

>20:1

空間分辨率

橫向分辨率:<500nm@532nm 激光

縱向分辨率:<2um@50um 針孔，532nm 激光；

＜1um@10um 針孔，532nm 激光

光譜儀

500 mm 焦長，Czerny-Turner 式全自動切換

光譜CCD探測器

2000*256 像素，背照式深耗盡芯片，QE>90%，可見近紅外專用

光學(xué)物鏡

NA=0.9, WD=10mm, 10X

白光源

鹵素?zé)?

樣品臺

類型：步進電機+壓電陶瓷

掃描范圍：2.5mm*2.5mm

 

整機電鏡

FE-SEM F4000

FE-SEM F6000

電子槍

肖特基熱場發(fā)射式電子槍

肖特基熱場發(fā)射式電子槍

分辨率

0.9nm@30kV

1.4nm@15kV

1.0 nm@30 kV

1.2nm@15kV

1.5 nm@l kV(減速模式)

加速電壓

0.02-30kv

0.02-30kv

束流

1pA~40nA

5 pA~30 nA (200 nA可選)

放大倍數(shù)

1x~1,000,000x(底片放大倍數(shù),1~15x光學(xué)放大)

1x~1,000,000x(底片放大倍數(shù),1~15x光學(xué)放大)

工作環(huán)境要求

溫度20±3/℃；濕度≤80%

工作電壓AC220V、50/60Hz

最大功耗4500W