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OmniES發(fā)射光譜測量系統(tǒng)

針對不同輻射光源的特性，可靈活選擇測試系統(tǒng)，如：寬帶光源和LED 通常分辨率要求不高，建議使用SGM100 或短焦距“譜王”、“影像譜王”系列光譜儀/ 單色儀；激光器、放電燈、等離子體、原子發(fā)射光譜等分辨率要求高，建議使用長焦距“譜王”、“影像譜王”系列光譜儀/ 單色儀；寬波長范圍（UV ～ IR），建議采用雙出口單色儀接兩個(gè)探測器；測試寬光譜范圍的發(fā)光體，需要采用SD 濾光片輪消多級光譜。
 
 
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發(fā)光體，如白熾燈、熒光燈、LED 等輻射光譜及發(fā)光特性的測試，對研究其特性有很大幫助。系統(tǒng)不僅可測量光源或其他發(fā)射光譜分布，而且可在此基礎(chǔ)上得到積分輻射通量、光通量、色坐標(biāo)等。

針對不同輻射光源的特性，可靈活選擇測試系統(tǒng)，如：寬帶光源和LED 通常分辨率要求不高，建議使用SGM100 或短焦距“譜王”、“影像譜王”系列光譜儀/ 單色儀；激光器、放電燈、等離子體、原子發(fā)射光譜等分辨率要求高，建議使用長焦距“譜王”、“影像譜王”系列光譜儀/ 單色儀；寬波長范圍（UV ～ IR），建議采用雙出口單色儀接兩個(gè)探測器；測試寬光譜范圍的發(fā)光體，需要采用SD 濾光片輪消多級光譜。

發(fā)射光譜測量系統(tǒng)組成：分光系統(tǒng)＋檢測系統(tǒng)＋數(shù)據(jù)采集及處理系統(tǒng)＋軟件系統(tǒng)＋計(jì)算機(jī)系統(tǒng)

OmniES-掃描型發(fā)射光譜測量系統(tǒng)

OmniES-攝譜型發(fā)射光譜測量系統(tǒng)