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OmniFluo-FLIM顯微熒光壽命成像系統(tǒng)

OmniFluo-FLIM系列顯微熒光壽命成像系統(tǒng)由科研級正置顯微鏡,配合多波長光路轉(zhuǎn)換機(jī)構(gòu),實現(xiàn)一套系統(tǒng)多波長激發(fā)的靈活應(yīng)用,適應(yīng)不同樣品測試需求。
高精度平移臺對樣品做微米量級的步進(jìn)控制,實現(xiàn)空間高分辨率掃描。樣品發(fā)光有高效收光光路,由高速、高靈敏探測器接收,再由時間分辨精度達(dá)到16ps的時間相關(guān)單光子計數(shù)器來獲得樣品的熒光壽命。集成軟件自動擬合個采集點熒光壽命,*終得到樣品的壽命影像。
 
 
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產(chǎn)品概述

熒光和熒光壽命

分子包含多個單能態(tài)S0、S1、S2…和三重態(tài)T1…,每個能態(tài)都包含多個精細(xì)的能級。正常情況下,大部分電子處在*低能態(tài)即基態(tài)S0 的*低能級上,當(dāng)分子被光束照射,會吸收光子能量,電子被激發(fā)到更高的能態(tài)S1 或S2 上,在S2 能態(tài)上的電子只能存在很短暫的時間,便會通過內(nèi)轉(zhuǎn)換過程躍遷到S1 上,而S1 能態(tài)上的電子亦會在極短時間內(nèi)躍遷到S1 的*低能級上,而這些電子會存在一段時間后通過震蕩弛豫輻射躍遷到基態(tài),這個過程會 釋放一個光子,即熒光。

此外,亦會有電子躍遷至三重態(tài)T1 上,再由T1 躍遷至基態(tài),我們稱之為磷光。

熒光特性

研究熒光特性時,主要在以下幾方面進(jìn)行分析:激發(fā)光譜,發(fā)射光譜、熒光強(qiáng)度、偏振熒光、熒光發(fā)光量子產(chǎn)率、熒光壽命等。其中熒光壽命(Fluorescence Lifetime)是指熒光分子在激發(fā)態(tài)上存在的平均時間(納秒量級)。

熒光壽命測試

熒光壽命一般在幾納秒至幾百納秒之間,如今主要有兩類測試方法:時域測量和頻域測量時間穩(wěn)定性實驗測試曲線:

1 時域測量

由一束窄脈沖將熒光分子激發(fā)至較高能態(tài)S1,接著測量熒光的發(fā)射幾率隨時間的變化。其中目前廣泛應(yīng)用的是時間相關(guān)單光子計數(shù),即TCSPC(Time Correlated Single Photon Counting)

時間相關(guān)單光子計數(shù)(TCSPC) 實現(xiàn)了從百ps-ns-us 的瞬態(tài)測試,此方法對數(shù)據(jù)的獲取完全依賴快速探測器和高速電路。用統(tǒng)計的方法計算樣品受激后發(fā)出的*( 也是唯一的一個) 光子與激發(fā)光之間的時間差,也就是下圖的START( 激發(fā)時刻) 與STOP( 發(fā)光時刻) 的時間差。由于對于Stop 信號的要求,所以TCSPC 一般需要高重復(fù)頻率的光源作為激發(fā)源,其重復(fù)至少要在100KHz 以上,多數(shù)的光源都會達(dá)到MHz 量級;同時,在一般情況下還要對Stop 信號做數(shù)量上的控制,做到盡量滿足在一個激發(fā)周期內(nèi),樣品產(chǎn)生且只產(chǎn)生一個光子的有效熒光信號,避免光子對的出現(xiàn)。

2 頻域測量

對連續(xù)激發(fā)光進(jìn)行振幅調(diào)制后,分子發(fā)出的熒光強(qiáng)度也會受到振幅調(diào)制,兩個調(diào)制信號之間存在與熒光壽命相關(guān)的相位差,因此可以測量該相位差計算熒光壽命。

 
 

左圖為正弦調(diào)制激發(fā)光(綠色)頻域顯示,發(fā)射光信號(紅色)相應(yīng)的相位變化頻域顯示。

右圖為對應(yīng)不同壽命的調(diào)制和相位的頻域顯示。TM- 調(diào)制壽命,TP- 相位壽命。[1]

顯微熒光壽命成像技術(shù)(FLIM)

顯微熒光壽命成像技術(shù)(Fluorescence Lifetime ImagingMicroscopy,F(xiàn)LIM)是一種在顯微尺度下展現(xiàn)熒光壽命空間分布的技術(shù),由于其不受樣品濃度影響,具有其他熒光成像技術(shù)無法代替的優(yōu)異性能,目前在生物醫(yī)學(xué)工程、光電半導(dǎo)體材料等領(lǐng)域是一種重要的表征測量手段。

FLIM 一般分為寬場FLIM 和激光掃描FLIM。

寬場FLIM(Wide Field FLIM,WFM)

該技術(shù)是用平行光照明并由物鏡聚焦樣品獲得熒光信號,再由一寬場相機(jī)采集熒光成像。寬場FLIM 常用于快速獲取大面積樣品成像。時域或是頻域壽命采集都可以應(yīng)用在寬場成像FLIM 上。寬場FLIM 有更高幀率和低損傷的優(yōu)勢。

2 激光掃描FLIM(Laser Scanning FLIM,LSM)

激光掃描FLIM 是針對選定區(qū)域內(nèi)的樣品逐點獲取其熒光衰減曲線,再經(jīng)過擬合*終合成熒光壽命圖像。相比寬場FLIM,其在空間分辨率、信噪比方面有更大的優(yōu)勢。掃描方式有兩種:一種是固定樣品,移動激光進(jìn)行掃描,一種是固定激光,電動位移臺帶動樣品移動進(jìn)行掃描。

FLIM 應(yīng)用

材料科學(xué)領(lǐng)域
  • 寬禁帶半導(dǎo)體如GaN、SiC 等體系的少子壽命mapping 測量
  • 量子點如CdSe@ZnS 等用作熒光壽命成像顯微鏡探針
  • 鈣鈦礦電池/LED 薄膜的組分分析、缺陷檢測
  • 銅銦鎵硒CIGS,銅鋅錫硫CZTS 薄膜太陽能電池的組分、缺陷檢測
  • 鑭系上轉(zhuǎn)換納米顆粒
  • GaAs 或GaAsP 量子阱的載流子擴(kuò)散研究

生命科學(xué)領(lǐng)域

  • 細(xì)胞體自身熒光壽命分析
  • 自身熒光相對熒光標(biāo)記的有效區(qū)分
  • 活細(xì)胞內(nèi)水介質(zhì)的PH 值測量
  • 局部氧氣濃度測量
  • 具有相同頻譜性質(zhì)的不同熒光標(biāo)記的區(qū)分
  • 活細(xì)胞內(nèi)鈣濃度測量
  • 時間分辨共振能量轉(zhuǎn)移(FRET):納米級尺度上的遠(yuǎn)差測量,環(huán)境敏感的FRET 探針定量測量
  • 代謝成像:NAD(P)H 和FAD 胞質(zhì)體的熒光壽命成像

OmniFluo-FLIM系列顯微熒光壽命成像系統(tǒng)應(yīng)用案例

1 用熒光分子對海拉細(xì)胞進(jìn)行染色

用熒光分子轉(zhuǎn)子Bodipy-C12 對海拉細(xì)胞(宮頸癌細(xì)胞的一種) 進(jìn)行染色。

(a) 顯微熒光壽命成像圖,壽命范圍1ns(藍(lán)色)到2.5ns(紅色);

(b) 熒光壽命直方圖,脂肪滴的短壽命約在1.6ns 附近,細(xì)胞中其他位置壽命較長,在1.8ns 附近。

用熒光分子轉(zhuǎn)子的時間分辨測量*大的好處在于熒光壽命具備足夠清晰的標(biāo)簽特性,且與熒光團(tuán)的濃度無關(guān)。[2]

2 金屬修飾熒光

金屬修飾熒光:

(a) 熒光壽命是熒光團(tuán)到金表面距離的函數(shù);

(b) 用綠色熒光蛋白(GFP)標(biāo)記乳腺腺癌細(xì)胞的細(xì)胞膜的共聚焦xz 橫截面,垂直比例尺:5m;

(c) b 圖的FLIM 圖,金表面附近的GFP 熒光壽命縮短。[2]

3 鈣鈦礦太陽能電池

下圖研究中,展示了一種動態(tài)熱風(fēng)(DHA)制備工藝來控制全無機(jī)PSC 的薄膜形態(tài)和穩(wěn)定性,該工藝不含有常規(guī)的有害反溶劑,可以在大氣環(huán)境中制備。同時,鈣鈦礦摻有鋇(Ba2+) 堿金屬離子(BaI2:CsPbI2Br)。這種DHA 方法有助于形成均勻的晶粒并控制結(jié)晶,從而形成穩(wěn)定的全無機(jī)PSC。從而在環(huán)境條件下形成完整的黑色相。經(jīng)過DHA處理的鈣鈦礦光伏器件,在0.09cm小面積下,效率為14.85%,在1x1cm的大面積下,具有13.78%的*高效率。DHA方法制備的器件在300h后仍然保持初始效率的92%。

4 MQWs 多量子阱研究

在(a) 藍(lán)寶石和(b) GaN 上生長的MQWs 的共焦PL mapping 圖像。具有較小尺寸的發(fā)光團(tuán)的*高密度是觀察到在GaN 上生長的MQWs。在(c) 藍(lán)寶石和(d)GaN 上生長的MQWs 的共焦TRPL mapping 圖。僅對于在GaN 上生長的MQWs,強(qiáng)的PL 強(qiáng)度區(qū)域與較長PL 衰減時間的區(qū)域很好地匹配。在(e) 藍(lán)寶石和(f)GaN 上生長的MQWs 在A 點和B 點測量的局部PL 衰減曲線,均標(biāo)記在圖中。對于在GaN 上生長的MQWs,點A 和B 之間的PL 衰減時間差更高。

OmniFluo-FLIM系列顯微熒光壽命成像系統(tǒng)參數(shù)配置

北京卓立漢光儀器有限公司提供的顯微熒光壽命成像系統(tǒng)是基于顯微和時間相關(guān)單光子計數(shù)技術(shù),配合高精度位移臺得到微觀樣品表面各空間分布點的熒光衰減曲線,再經(jīng)過用數(shù)據(jù)擬合,得到樣品表面發(fā)光壽命表征的影像。是光電半導(dǎo)體材料、熒光標(biāo)記常用熒光分子等類似熒光壽命大多分布在納秒、幾十、幾百納秒尺度的物質(zhì)的不二選擇。

參數(shù)指標(biāo):

系統(tǒng)性能指標(biāo)

光譜掃描范圍

200-900nm

*小時間分辨率

16ps

熒光壽命測量范圍

100ps-1μs@ 皮秒脈沖激光器

空間分辨率

≤1μm@100X 物鏡@405nm 皮秒脈沖激光器

熒光壽命檢測IRF

≤2ns

配置參數(shù)

激發(fā)源及匹配光譜范圍

(光源參數(shù)基于

50MHz 重復(fù)頻率)

375nm 皮秒脈沖激光器,脈寬:30ps,平均功率1.5mW,熒光波段:400-850nm

405nm 皮秒脈沖激光器,脈寬:25ps,平均功率2.5mW,熒光波段:430-920nm

450nm 皮秒脈沖激光器,脈寬:50ps,平均功率1.9mW,熒光波段:485-950nm

488nm 皮秒脈沖激光器,脈寬:70ps,平均功率1.3mW,熒光波段:500-950nm

510nm 皮秒脈沖激光器,脈寬:75ps,平均功率1.1mW,熒光波段:535-950nm

635nm 皮秒脈沖激光器,脈寬:65ps,平均功率4.3mW,熒光波段:670-950nm

660nm 皮秒脈沖激光器,脈寬:60ps,平均功率1.9mW,熒光波段:690-950nm

670nm 皮秒脈沖激光器,脈寬:40ps,平均功率0.8mW,熒光波段:700-950nm

科研級正置顯微鏡

落射明暗場鹵素?zé)粽彰鳎?2V,100W

5 孔物鏡轉(zhuǎn)盤,標(biāo)配明場用物鏡:10×,50×,100×

監(jiān)視CCD:高清彩色CMOS 攝像頭,像元尺寸:3.6μm*3.6μm,

有效像素:1280H*1024V,掃描方式:逐行,快門方式:電子快門

電動位移臺

高精度電動XY 樣品臺,行程:75*50mm(120*80mm 可選),

*小步進(jìn):50nm,重復(fù)定位精度:< 1μm

光譜儀

320mm 焦距影像校正單色儀,雙入口、狹縫出口、CCD 出口,

配置三塊68×68mm 大面積光柵,波長準(zhǔn)確度:±0.1nm,

波長重復(fù)性:±0.01nm,掃描步距:0.0025nm,焦面尺寸:30mm(w)×14mm(h),

狹縫縫寬:0.01-3mm 連續(xù)電動可調(diào)

探測器:制冷型紫外可見光電倍增管,光譜范圍:185-900nm(標(biāo)配,可擴(kuò)展)

光譜CCD

(可擴(kuò)展PLmapping)

低噪音科學(xué)級光譜CCD(LDC-DD),芯片格式:2000x256,

像元尺寸:15μm*15μ

m, 探測面:30mm*3.8mm,背照式深耗盡芯片,

低暗電流,*低制冷溫度-60℃ @25℃環(huán)境溫度,風(fēng)冷,*高量子效率值>95%

時間相關(guān)單光子計數(shù)器(TCSPC)

時間分辨率:16/32/64/128/256/512/1024ps……33.55μs,死時間< 10ns,

*高65535 個直方圖時間窗口,瞬時飽和計數(shù)率:100Mcps,支持穩(wěn)態(tài)光譜測試;

OmniFluo-FM 熒光壽命成像專用軟件

控制功能:控制樣品平移臺移動,通過顯微鏡的明場光學(xué)像定位到合適區(qū)域,

框選掃描區(qū)域進(jìn)行掃描,逐點獲得熒光衰減曲線,實時生成熒光圖像等

數(shù)據(jù)處理功能:自動對掃描獲得的FLIM 數(shù)據(jù),逐點進(jìn)行多組分熒光壽命擬合

(組分?jǐn)?shù)小于等于4),對逐點擬合獲得的熒光強(qiáng)度、熒光壽命等信息生成

偽彩色圖像顯示

圖像處理功能:直方圖、色表、等高線、截線分析、3D 顯示等

操作電腦

品牌操作電腦,Windows 10 操作系統(tǒng)

 

FLIM 軟件界面


控制測試界面

測試軟件的界面遵循“All In One”的簡潔設(shè)計思路,用戶可在下圖所示的控制界面中完成采集數(shù)據(jù)的所有步驟:包括控制樣品平移臺移動,通過顯微鏡的明場光學(xué)像定位到合適區(qū)域,框選掃描區(qū)域進(jìn)行掃描,逐點獲得熒光衰減曲線,實時生成熒光圖像等。

數(shù)據(jù)處理界面

功能豐富的熒光壽命數(shù)據(jù)處理軟件,充分挖掘用戶數(shù)據(jù)中的寶貴信息??勺詣訉呙璜@得的FLIM 數(shù)據(jù),逐點進(jìn)行多組分熒光壽命擬合(組分?jǐn)?shù)小于等于4),對逐點擬合獲得的熒光強(qiáng)度、熒光壽命等信息生成偽彩色圖像顯示。

自主開發(fā)的一套時間相關(guān)單光子計數(shù)(TCSPC)熒光壽命的擬合算法,可對熒光衰減曲線中*多包含4 個時間組分的熒光過程進(jìn)行擬合,獲得每個組分的熒光壽命,光子數(shù)比例,計算評價函數(shù)和殘差。TCSPC 熒光壽命通常并非簡單的指數(shù)衰減過程,而是與光源及探測器相關(guān)的儀器響應(yīng)函數(shù)(IRF)與熒光衰減過程相互卷積的結(jié)果,因此適當(dāng)?shù)臄M合方法和參數(shù)選擇對獲得正確可靠的熒光壽命非常重要。該軟件可導(dǎo)入實際測量的IRF 對衰減曲線進(jìn)行卷積計算和擬合。但是大多數(shù)情況下, IRF 很難正確的從實驗獲得,針對這種情況,軟件提供了兩種無需實驗獲取IRF 的擬合方法:

NO.1 通過算法對數(shù)據(jù)上升沿進(jìn)行擬合,獲得時間響應(yīng)函數(shù)IRF,然后對整條衰減曲線進(jìn)行卷積計算和擬合得到熒光壽命。

NO.2對于衰減時間遠(yuǎn)長于儀器響應(yīng)時間的,可對衰減曲線下降沿進(jìn)行直接的指數(shù)擬合。該軟件經(jīng)過大量測試,可以很好的滿足各種場合的用戶需求。

MicroLED 微盤的熒光強(qiáng)度像(3D 顯示):

測試案例