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MAPS-LTMS系列低溫/磁場微區(qū)光譜測試系統(tǒng)

低溫磁場下的微區(qū)光學(xué)測試解決方案。它支持最高達(dá)12 T磁場,低至2.8 K環(huán)境下的微區(qū)光學(xué)測試。包括熒光,熒光壽命,反射光譜,拉曼光譜,偏振分辨二次諧波,光電流,磁光克爾與反射磁圓二色。主要應(yīng)用于磁性二維材料或磁性薄膜材料與器件的磁性表征,居里溫度表征,表面拓?fù)浯沤Y(jié)構(gòu)表征,磁疇掃描成像
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低溫/磁場兼容的微區(qū)光譜測試系統(tǒng)
Waynelabs3 的核心研發(fā)成員具有十余年的低溫,強磁場,光譜,自動化控制與采集系統(tǒng)開發(fā)經(jīng)驗。我們將于2024年推出磁場下的微區(qū)光學(xué)測試解決方案。它支持最高達(dá)12 T磁場,低至2.8 K環(huán)境下的微區(qū)光學(xué)測試。包括熒光,熒光壽命,反射光譜,拉曼光譜,偏振分辨二次諧波,光電流,磁光克爾與反射磁圓二色。主要應(yīng)用于磁性二維材料或磁性薄膜材料與器件的磁性表征,居里溫度表征,表面拓?fù)浯沤Y(jié)構(gòu)表征,磁疇掃描成像。
與電學(xué)測試相比,磁光測試具有微米級的空間分辨能力,因此適用于需要高空間分辨的應(yīng)用,例如二維材料不同區(qū)域的磁性表征與對比,磁疇掃描成像。
此外,由于其無接觸非損傷的特性,測量過程簡潔高效且不干擾樣品本身的物理特性。因此磁光測試甚至能夠在樣品進(jìn)行多工序制備的每一步過程中進(jìn)行表征,而不干擾樣品的制備流程。例如在制備多層異質(zhì)結(jié)時,逐步堆疊上層材料,分別測試每一層堆疊之后的樣品性質(zhì)變化。
由于光學(xué)手段不依賴于電流,因此,它能輔助電學(xué)實驗獲得更準(zhǔn)確的實驗結(jié)果。例如在電流導(dǎo)致的某些物理特性測試中,采用霍爾方法將不可避免的給樣品施加電流。而光學(xué)手段則能夠?qū)y試和電流兩個量分離,準(zhǔn)確的得到不同電流下樣品的磁性特征。
無需制備電極,給某些空氣或應(yīng)力敏感的樣品提供了一種更便捷的測試手段。結(jié)合眾韋光電的光學(xué)密封轉(zhuǎn)移樣品盒,能夠?qū)崿F(xiàn)從手套箱至磁體中測試的全流程樣品的氣氛保護(hù)。
我們?yōu)槁菥€管式和劈裂式這兩種類型超導(dǎo)磁體分別設(shè)計了微區(qū)磁光測試解決方案:
 
磁體與低溫分體式,緊湊型超導(dǎo)磁體+光學(xué)低溫臺

*此圖僅作為原理示意,以實際為準(zhǔn)
 
可磁場/低溫適配的功能模塊
· 反射光譜;
· 拉曼/熒光;
· 熒光壽命;
· 二次諧波;
· 磁光克爾/反射磁圓二色;
· 光電流/霍爾效應(yīng);
· 角分辨。
一體式變溫超導(dǎo)磁體系統(tǒng),樣品桿式

*此圖僅作為原理示意,以實際為準(zhǔn) 
 
典型數(shù)據(jù)