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MAPS-TR反射/透射光譜共聚焦掃描成像系統(tǒng)

采用“所見即所得”的測量方式，即反射與透射測量方式均能在直接觀測樣品成像時(shí)看到測量光斑，成像與測量光路通過電機(jī)切換。標(biāo)準(zhǔn)系統(tǒng)可滿足紫外/可見/近紅外波段的測試需求，對于特殊波段可進(jìn)行優(yōu)化設(shè)計(jì)及光路定制。
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反射/透射光譜共聚焦掃描成像系統(tǒng)

Waynelabs3 的標(biāo)準(zhǔn)反射/透射光譜測試系統(tǒng)，采用“所見即所得”的測量方式，即反射與透射測量方式均能在直接觀測樣品成像時(shí)看到測量光斑，成像與測量光路通過電機(jī)切換。標(biāo)準(zhǔn)系統(tǒng)可滿足紫外/可見/近紅外波段的測試需求，對于特殊波段可進(jìn)行優(yōu)化設(shè)計(jì)及光路定制。

系統(tǒng)原理示意圖
*此圖為簡化原理示意，不代表實(shí)際光路
 
典型數(shù)據(jù)圖

基本功能

· 白光反射譜及Mapping成像；

· 白光透射譜及Mapping成像；

· 電動(dòng)變偏振采譜；（可選）

· 適配低溫臺(tái)、電學(xué)樣品臺(tái)等；（可選）

· 共聚焦方式和科勒照明方式；（可選）

· 透射光譜無色散設(shè)計(jì)；（可選）

· 入射及收集光路均可配置雙口電動(dòng)切換。（可選）

應(yīng)用場景

光學(xué)材料的能級(jí)及振動(dòng)強(qiáng)弱信息探測

· 半導(dǎo)體材料的帶隙探測；

· 無機(jī)光學(xué)材料的吸收特性研究；

· 貴金屬納米材料的表面等離激元共振特性研究；

· 光學(xué)材料的基礎(chǔ)光譜表征。

反射/透射光譜共聚焦掃描成像系統(tǒng)典型參數(shù)配置

測試光源： 光纖耦合鹵素?zé)?；自由空間鹵素?zé)簦蛇x）

支持光譜范圍： 250 nm - 850 nm；400 nm - 1100 nm；900 nm - 1700 nm

空間分辨率： ＜ 1 mm

電動(dòng)位移行程： 50 mm × 50 mm × 40 mm

掃描精度： ＜ 1 mm，步進(jìn)最小 0.04 mm

偏振控制： 電動(dòng)

測量方式： 反射和透射

光路切換方式： 電動(dòng)，軟件控制

物鏡組： 5X，10X，20X，50X，100X可見光物鏡；反射式物鏡，紅外長焦物鏡等可選

照明光源： 高顯色LED面光源

光譜采集： 光纖光譜儀；光柵光譜儀（可選）

軟件功能：移動(dòng)視場，切換物鏡，對焦，框選掃描區(qū)域均可用鼠標(biāo)直接在圖像顯示窗口操作；電動(dòng)功率調(diào)整；自動(dòng)光路模式切換；自動(dòng)化Mapping；自動(dòng)化偏振Mapping；實(shí)時(shí)處理與顯示數(shù)據(jù)。